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越爾興帶你初步了解關于ESD靜電防護

  ESD的測試方法類似FAB里面的GOI測試,指定pin之后先給他一個ESD電壓,持續一段時間后,然后再回來測試電性看看是否損壞,沒問題再去加一個step的ESD電壓再持續一段時間,再測電性,如此反復直至擊穿,此時的擊穿電壓為ESD擊穿的臨界電壓(ESD failure threshold Voltage)。通常我們都是給電路打三次電壓(3 zaps),為了降低測試周期,通常起始電壓用標準電壓的70% ESD threshold,每個step可以根據需要自己調整50V或者100V。
  另外,因為每個chip的pin腳很多,一個個pin測試還是組合pin測試,所以會分為幾種組合:I/O-pin測試(Input and Output pins)、pin-to-pin測試、Vdd-Vss測試(輸入端到輸出端)、Analog-pin。
  1.I/O Pins
  分別對input-pin和output-pin做ESD測試,而且電荷有正負之分,所以有四種組合:input+正電荷、input+負電荷、output+正電荷、output+負電荷。測試input時候,則output和其他pin全部浮接(floating),反之亦然。
  2.pin-to-pin
  靜電放電發生在pin-to-pin之間形成回路,但是如果要每每兩個腳測試組合太多,因為任何的I/O給電壓之后如果要對整個電路產生影響一定是先經過VDD/Vss才能對整個電路供電,所以改良版則用某一I/O-pin加正或負的ESD電壓,其他所有I/O一起接地,但是輸入和輸出同時浮接(Floating)。
  3.Vdd-Vss之間靜電放電
  只需要把Vdd和Vss接起來,所有的I/O全部浮接(floating),這樣給靜電讓他穿過Vdd與Vss之間。
  4.Analog-pin放電測試
  因為模擬電路很多差分比對(Differential Pair)或者運算放大器(OP AMP)都是有兩個輸入端的,防止一個損壞導致差分比對或運算失效,所以需要單獨做ESD測試,當然就是只針對這兩個pin,其他pin全部浮接(floating)。 
    

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